絕大多數(shù)整機電子產(chǎn)品，其中種類最多、數(shù)量最多的當屬電子元器件，而大部分情況下整機電子產(chǎn)品的故障都是由元器件失效引起。由于絕大部分電子產(chǎn)品制造企業(yè)受限于元器件失效分析設備和人員能力，當電子元器件失效時往往只能通過更換或寄回原廠進行分析，而原廠的分析結(jié)果往往是ESD、EOS或應用問題，最終很有可能對產(chǎn)品可靠性的改善和問題的預防沒有任何幫助。
培訓目標：
通過國內(nèi)資深失效分析專家的理論講解和案例解析，幫助國內(nèi)電子行業(yè)從業(yè)人員建立元器件可靠性、失效分析、失效模式及失效機理等基本概念，熟悉電子元器件常見失效模式與失效機理，建立不同門類元器件的失效分析思路和方法，為開展可靠性設計、物料管控、故障分析、生產(chǎn)制造以及安裝運維等產(chǎn)品全壽命周期的可靠性工作打下基礎(chǔ)。
培訓內(nèi)容：
失效分析概論；
電子元器件失效分析技術(shù)；
2.1 失效分析基本程序
2.2 非破壞性分析的基本路徑
2.3 半破壞性分析的基本路徑
2.4 破壞性分析的基本路徑
3.常用失效分析設備及作用；
4.電子元器件主要失效模式和固有失效機理；
5.主要電子元器件失效分析經(jīng)典案例（電阻、電容、電感、二極管、三極管、MOS、IC、可控硅、電路模塊等）。 |
合作伙伴與授權(quán)機構(gòu)
總部李老師
