
Macleod薄膜專題設計中高級培訓
1. 光學薄膜設計
1.1 光學薄膜設計的進展
1.2 光學薄膜設計中的一些實際問題
1.3 光學薄膜設計技巧
1.4 特殊光學薄膜的設計方法
1.5 Macleod軟件的設計與優(yōu)化功能
1.5.1 優(yōu)化目標設置
1.5.2 優(yōu)化方法(單一優(yōu)化,合成優(yōu)化,模擬退火法,共軛梯度法,準牛頓法,針形優(yōu)化,差分演化法)
1.5.3 膜層鎖定和鏈接
2. 常規(guī)光學薄膜系統(tǒng)設計與分析
2.1 減反射薄膜
2.2 分光膜
2.3 高反射膜
2.4 干涉截止濾光片
2.5 窄帶濾光片
2.6 負濾光片
2.7 非均勻膜與Rugate濾光片
2.8 顏色膜
2.9 Vstack薄膜設計示例
2.10 Stack應用范例說明
3. VR、AR及HUD用光學薄膜
3.1 背景介紹
3.2 產(chǎn)品特性
3.3 典型VR系統(tǒng)光學薄膜設計分析
3.4 典型AR系統(tǒng)光學薄膜設計分析
3.5 典型HUD系統(tǒng)光學薄膜設計分析
4. 防霧薄膜
4.1自清潔效應
4.2 超親水薄膜
4.3 超疏水薄膜
4.4 防霧薄膜的制備
4.5 防霧薄膜的性能測試
5. 材料管理
5.1 光學薄膜材料性能及應用評述
5.2 金屬與介質(zhì)薄膜
5.3 材料模型
5.4 介質(zhì)薄膜光學常數(shù)的提取
5.5 金屬薄膜光學常數(shù)的提取
5.6 基板光學常數(shù)的提取
5.7 光學常數(shù)導出遇到的問題及解決思路
6. 薄膜制備技術
6.1 常見薄膜制備技術
6.2 光學薄膜制備流程
6.3 淀積技術
6.4 工藝因素
7. 誤差、容差與光學薄膜監(jiān)控技術
7.1 光學薄膜監(jiān)控技術
7.2 誤差分析與監(jiān)控決策
7.3 Runsheet 與 Simulator應用技巧
7.4 膜系靈敏度分析
7.5 膜系容差分析
7.6 誤差分析工具
8. 反演工程
8. 1 鍍膜過程中兩種主要的誤差(系統(tǒng)誤差和隨機誤差)
8.2 使用反演工程來控制對設計的搜索
9. 應力、張力、溫度和均勻性工具
9.1 光學性質(zhì)的熱致偏移
9.2 應力工具
9.3 均勻性誤差(圓錐工具、波前問題)
10. Function功能擴展
10.1 如何在Function中編寫操作數(shù)
10.2 如何在Function中編寫腳本
10.3 案例:太陽能抗反射薄膜設計與計算
10.4 案例:OLED薄膜及微腔效應
11. 光學薄膜特性測量
11.1 薄膜光學常數(shù)的測量
11.2 薄膜堆積密度的測量
11.3 薄膜微觀結構分析
11.4 薄膜成分分析
11.5 薄膜硬度、附著性及耐摩擦性的測量
11.6 薄膜表面粗糙度的測量
12. 項目管理與應用實例
12.1 項目管理
12.2 光學薄膜項目開發(fā)過程
12.3 客戶需求分析
12.4 文檔管理與報表生成
13. 特殊薄膜設計
13.1 仿生蛾眼結構在顯示技術上的應用
13.2 金屬線柵偏振膜